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    德國EPK公司-MiniTest2100涂鍍層測厚儀

    更新時間:2024-06-18

    儀器型號:

    簡要描述:

    德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;

      免費咨詢:86-0755-23109332

      發郵件給我們:weifeng1718@163.com

    德國EPK公司-MiniTest2100涂鍍層測厚儀


    德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
    所有型號均可配所有探頭;
    可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
    可使用一片或二片標準箔校準。

    MiniTest2100涂鍍層測厚儀功能

    型號

    1100

    2100

    3100

    4100

    MINITEST 存儲的數據量
    應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

    1

    1

    10

    99

    每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,并可設寬容度極限值)

    -

    1

    10

    99

    可用各自的日期和時間標識特性的組數

    -

    1

    500

    500

    數據總量

    1

    10000

    10000

    10000

    MINITEST統計計算功能
    讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

    -

    讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

    -

    -

    組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

    -

    -

    組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

    -

    -

    存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

    -

    -

    -

    分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

    -

    -

    顯示并打印測量值、打印的日期和時間

    -

    其他功能
    透過涂層進行校準(CTC)

    -

    在粗糙表面上作平均零校準

    利用計算機進行基礎校準

    補償一個常數(Offset)

    -

    -

    外設的讀值傳輸存儲功能

    -

    保護并鎖定校準設置

    更換電池是存儲數值

    設置極限值

    -

    -

    公英制轉換

    連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

    -

    -

    連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

    -

    -

    浮點和定點方式數據傳送

    組內單值延遲顯示

    -

    連續測量模式中顯示zui小值

    MiniTest2100涂層測厚儀可選探頭參數探頭圖示
    所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
    F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
    N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
    FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

    德國EPK公司MiniTest2100涂層測厚儀探頭參數

    探頭

    量程

    低端
    分辨率

    誤差

    zui小曲率
    半徑(凸/凹)

    zui小測量
    區域直徑

    zui小基
    體厚度

    探頭尺寸




     

     

     

     

     

     

     

    F05

    0-500μm

    0.1μm

    ±(1%±0.7μm)

    1/5mm

    3mm

    0.2mm

    φ15x62mm

    F1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x8x170mm

    F3

    0-3000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F10

    0-10mm

    5μm

    ±(1%±10μm)

    5/16mm

    20mm

    1mm

    φ25x46mm

    F20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±10μm)

    10/30mm

    40mm

    2mm

    φ40x66mm

    F50

    0-50mm

    10μm

    ±(3%±50μm)

    50/200mm

    300mm

    2mm

    φ45x70mm



     

     

     

    FN1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm
    N50μm

    φ15x62mm

    FN1.6P

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    30mm

    F0.5mm
    N50μm

    φ21x89mm

    FN2

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm
    N50μm

    φ15x62mm




     

     

     

     

     

     

     

     

     

    N02

    0-200μm

    0.1μm

    ±(1%±0.5μm)

    1/10mm

    2mm

    50μm

    φ16x70mm

    N.08Cr

    0-80μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    2.5mm

    2mm

    100μm

    φ15x62mm

    N1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    2mm

    50μm

    φ15x62mm

    N1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/10mm

    5mm

    50μm

    φ13x13x170mm

    N10

    0-10mm

    10μm

    ±(1%±25μm)

    25/100mm

    50mm

    50μm

    φ60x50mm

    N20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±50μm)

    25/100mm

    70mm

    50μm

    φ65x75mm

    N100

    0-100mm

    100μm

    ±(1%±0.3mm)

    100mm/平面

    200mm

    50μm

    φ126x155mm

    CN02

    10-200μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    7mm

    無限制

    φ17x80mm

    F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
    N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。

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    深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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