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    德國EPK-MiniTest 1100涂鍍層測厚儀

    更新時間:2024-06-18

    儀器型號:

    簡要描述:

    德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
    所有型號均可配所有探頭;

      免費咨詢:86-0755-23109332

      發郵件給我們:weifeng1718@163.com

    德國EPK-MiniTest 1100涂鍍層測厚儀

    德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
    所有型號均可配所有探頭;
    可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
    可使用一片或二片標準箔校準。

    MiniTest 1100涂鍍層測厚儀功能

    型號

     

    1100

     

    2100

     

    3100

     

    4100

    MINITEST 存儲的數據量
    應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

     

    1

     

    1

     

    10

     

    99

    每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,并可設寬容度極限值)

     

    -

     

    1

     

    10

     

    99

    可用各自的日期和時間標識特性的組數

     

    -

     

    1

     

    500

     

    500

    數據總量

     

    1

     

    10000

     

    10000

     

    10000

    MINITEST統計計算功能
    讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

     

    -

     

     

     

    讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

     

    -

     

    -

     

     

    組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

     

    -

     

    -

     

     

    組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

     

    -

     

    -

     

     

    存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

     

    -

     

    -

     

    -

     

    分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

     

    -

     

    -

     

     

    顯示并打印測量值、打印的日期和時間

     

    -

     

     

     

    其他功能
    透過涂層進行校準(CTC)

     

    -

     

     

     

    在粗糙表面上作平均零校準

     

     

     

     

    利用計算機進行基礎校準

     

     

     

     

    補償一個常數(Offset)

     

    -

     

    -

     

     

    外設的讀值傳輸存儲功能

     

    -

     

     

     

    保護并鎖定校準設置

     

     

     

     

    更換電池是存儲數值

     

     

     

     

    設置極限值

     

    -

     

    -

     

     

    公英制轉換

     

     

     

     

    連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

     

    -

     

    -

     

     

    連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

     

    -

     

    -

     

     

    浮點和定點方式數據傳送

     

     

     

     

    組內單值延遲顯示

     

    -

     

     

     

    連續測量模式中顯示zui小值

     

     

     

     

    MiniTest2100涂層測厚儀可選探頭參數探頭圖示
    所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
    F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
    N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
    FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

    德國EPK公司MiniTest 1100涂層測厚儀探頭參數

     

    探頭

     

    量程

     

    低端
    分辨率

     

    誤差

     

    zui小曲率
    半徑(凸/凹)

     

    zui小測量
    區域直徑

     

    zui小基
    體厚度

     

    探頭尺寸

     




     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    F05

     

    0-500μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±0.7μm)

     

    1/5mm

     

    3mm

     

    0.2mm

     

    φ15x62mm

     

    F1.6

     

    0-1600μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    1.5/10mm

     

    5mm

     

    0.5mm

     

    φ15x62mm

     

    F1.6/90

     

    0-1600μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    平面/6mm

     

    5mm

     

    0.5mm

     

    φ8x8x170mm

     

    F3

     

    0-3000μm

     

    0.2μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    1.5/10mm

     

    5mm

     

    0.5mm

     

    φ15x62mm

     

    F10

     

    0-10mm

     

    5μm

     

    ±(1%±10μm)

     

    5/16mm

     

    20mm

     

    1mm

     

    φ25x46mm

     

    F20

     

    0-20mm

     

    10μm

     

    ±(1%±10μm)

     

    10/30mm

     

    40mm

     

    2mm

     

    φ40x66mm

     

    F50

     

    0-50mm

     

    10μm

     

    ±(3%±50μm)

     

    50/200mm

     

    300mm

     

    2mm

     

    φ45x70mm

     



     

     

     

     

     

     

    FN1.6

     

    0-1600μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    1.5/10mm

     

    5mm

     

    F0.5mm
    N50μm

     

    φ15x62mm

     

    FN1.6P

     

    0-1600μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    平面

     

    30mm

     

    F0.5mm
    N50μm

     

    φ21x89mm

     

    FN2

     

    0-2000μm

     

    0.2μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    1.5/10mm

     

    5mm

     

    F0.5mm
    N50μm

     

    φ15x62mm

     




     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    N02

     

    0-200μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±0.5μm)

     

    1/10mm

     

    2mm

     

    50μm

     

    φ16x70mm

     

    N.08Cr

     

    0-80μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    2.5mm

     

    2mm

     

    100μm

     

    φ15x62mm

     

    N1.6

     

    0-1600μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    1.5/10mm

     

    2mm

     

    50μm

     

    φ15x62mm

     

    N1.6/90

     

    0-1600μm

     

    0.1μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    平面/10mm

     

    5mm

     

    50μm

     

    φ13x13x170mm

     

    N10

     

    0-10mm

     

    10μm

     

    ±(1%±25μm)

     

    25/100mm

     

    50mm

     

    50μm

     

    φ60x50mm

     

    N20

     

    0-20mm

     

    10μm

     

    ±(1%±50μm)

     

    25/100mm

     

    70mm

     

    50μm

     

    φ65x75mm

     

    N100

     

    0-100mm

     

    100μm

     

    ±(1%±0.3mm)

     

    100mm/平面

     

    200mm

     

    50μm

     

    φ126x155mm

     

    CN02

     

    10-200μm

     

    0.2μm

     

    ±(1%±1μm)

     

    平面

     

    7mm

     

    無限制

     

    φ17x80mm

    F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
    N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。


     

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    深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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